Optris Xi 1M 是一款短波紅外熱像儀，在非接觸熱成像領(lǐng)域提供了創(chuàng)新、經(jīng)濟實惠和高精度的性能，專門用于測量具有挑戰(zhàn)性的物體表面溫度。設(shè)計在短波紅外范圍內(nèi)工作（波長：0.85 – 1.1 μm），這款前視紅外熱像儀專為捕捉熱鋼、鐵、黃銅、銅、錫、碳、陶瓷和半導體的精確表面溫度分析而設(shè)計。為了滿足各行業(yè)的嚴格要求，Optris Xi 1M 提供了寬廣的高溫測量范圍、卓越的準確性和可定制的視場配置。

許多由非光亮材料組成的測量物體在長波紅外光譜范圍內(nèi)顯示出較高且相對恒定的發(fā)射率，而這些材料在長波紅外波段的低發(fā)射率會導致測量結(jié)果的不穩(wěn)定和不可靠。短波 Xi 1M 紅外熱像儀的光譜范圍與大多數(shù)金屬材料的最高發(fā)射率相匹配，從而簡化了遠程溫度測量。此外，根據(jù)普朗克輻射定律，在短波范圍內(nèi)發(fā)射的紅外輻射顯著增加，因此線性發(fā)射率問題對短波溫度測量結(jié)果的重復性影響較小。因此，在考慮到較高的溫度測量范圍時，對高溫光亮材料的非接觸溫度測量應盡可能使用短波段。

這些紅外熱像儀能夠自主尋找熱熱點，增強了在各種監(jiān)控和檢查任務(wù)中的實用性和效率。Xi 1M 紅外熱像儀專為這些具有挑戰(zhàn)性的工業(yè)應用設(shè)計和制造，在精度、準確性和重復性方面優(yōu)于長波紅外熱像儀。

Xi 1M 紅外熱像儀具有中等分辨率的熱成像能力（396 x 300 像素），能夠在 450°C 至 1800°C 的廣泛溫度范圍內(nèi)出色地捕捉溫度數(shù)據(jù)，無需子范圍。其卓越的距離與點大小比率確保即使在相當遠的距離拍攝圖像時也能準確測量溫度。這種優(yōu)越的比率超越了現(xiàn)代高溫計的光學性能，使其能夠詳細監(jiān)控遠距離目標。此外，電動對焦功能允許用戶遠程精確調(diào)整其表面溫度測量目標的焦點。

Optris Xi 1M 工業(yè)級和堅固的設(shè)計確保了在苛刻工業(yè)環(huán)境中的可靠性，使其成為工藝工程師在制造過程中進行精確紅外溫度測量的必備工具。其緊湊但耐用且防水的設(shè)計使該紅外熱像儀非常適合固定安裝或掛載設(shè)置，保證在各種工業(yè)制造環(huán)境中的耐用性。

Optris Xi 1M 以太網(wǎng)作為其主要接口，能夠輕松連接到計算機，幀率為 20 Hz。USB 接口也是次要選項，幀率為 20 Hz，用于 132 x 100 像素的子圖像。其智能自主操作消除了廣泛的軟件編碼需求，使其能夠輕松集成到控制回路中。此外，這款紅外熱像儀具有自動點查找、直接模擬輸出（0/4-20mA）以及與工業(yè)現(xiàn)場總線系統(tǒng)（如 Ethernet/IP、Modbus TCP/IP、RS485 或 Profinet）兼容的功能，使其成為原始設(shè)備制造商（OEM）使用的終極解決方案。Xi 1M 的自主操作模式以 20 Hz 運行，用于 132 x 100 像素的子圖像，進一步簡化了其在機械設(shè)備中的集成。

此外，Optris Xi 1M 通過 PIX Connect 軟件許可證提供了更復雜的軟件功能，如線掃描或圖像合并。PIX Connect 對于尋求具有強大軟件平臺用于熱圖像處理和溫度數(shù)據(jù)收集的經(jīng)濟型紅外熱像儀的研究人員來說是不可或缺的。開發(fā)工具包也可供開發(fā)特定應用軟件解決方案的集成商使用。

這些創(chuàng)新功能增強了紅外熱像儀在各類應用中提供準確可靠的表面溫度測量的能力，從制造過程中的質(zhì)量控制到狀態(tài)監(jiān)測以及研發(fā)活動。Xi 1M 的多功能性確保了其在各種工業(yè)環(huán)境中的無縫集成，增強了熱像儀對特定需求的適應性。憑借其先進的功能，Optris Xi 1M 為固定安裝紅外成像樹立了新的標準，提供了一種經(jīng)濟高效且強大的解決方案，適用于多種工業(yè)應用。

同時，Xi 1M 紅外熱像儀兼容廣泛的適用于惡劣環(huán)境的配件。這些配件包括水冷外殼，將工作溫度范圍擴展至 250 度?？諝鈨艋b置保持鏡頭潔凈，即使在多塵環(huán)境中也能保證不間斷的溫度測量。兼容配件的組合還包括機械安裝選項、電氣接口和連接電纜，所有這些都以誘人的價格提供。